Thử nghiệm và chứng nhận UN 38.3 cho Pin lithium

Thử nghiệm UN 38.3 là gì?
Trước khi tế bào/pin lithium có thể được vận chuyển tới địa điểm khác, chúng phải vượt qua một số thử nghiệm nhất định. Những thử nghiệm này mô phỏng các điều kiện vận chuyển như áp suất, nhiệt độ, mài mòn, va đập, v.v. Những thử nghiệm này được mô tả trong hướng dẫn của Liên hợp quốc (UN) có tên là “Hướng dẫn thử nghiệm và các quy định của Liên hợp quốc”. Phần III của hướng dẫn này mô tả trong tiểu mục 38.3, 8 mô-đun kiểm tra mà trong một số tài liệu hoặc bảng dữ liệu còn được gọi là hạng mục thử nghiệm T.1 đến T.8.

Kể từ ngày 01 tháng 01 năm 2023, phiên bản sửa đổi thứ 7 của sổ tay hướng dẫn kiểm tra và các quy định của Liên hợp quốc, bản sửa đổi 1 có hiệu lực.

Các hạng mục thử nghiệm trong UN 38.3

T1: Mô phỏng độ cao
• Thử nghiệm này mô phỏng khi vận chuyển mẫu bằng đường không dưới điều kiện áp suất thấp.
• Mẫu được thử nghiệm ở áp suất 11.6 kPa hoặc nhỏ hơn trong thời gian ít nhất là 6 giờ dưới nhiệt độ 20+/-5 độ C.
T2: Thử nghiệm sốc nhiệt
• Thử nghiệm này đánh giá tính nguyên vẹn độ kín của pin cũng như các kết nối của linh kiện điện bên trong pin. Thử nghiệm được tiến hành bằng cách thay đổi nhiệt độ nhanh và khắc nghiệt.
T3: Thử nghiệm rung
• Mô phỏng rung động trong khi vận chuyển mẫu.
T4: Thử nghiệm sốc
• Đánh giá khả năng chống chịu với các tác động sốc cơ học hay nói cách khác là đánh giá khả năng ổn định của mẫu.
T5: Thử nghiệm ngắn mạch bên ngoài
• Mẫu được gia nhiệt trong một thời gian và nhiệt độ nhất định, sau đó theo dõi độ ổn định của mẫu trước các tác động đó.
T6: Thử nghiệm va chạm và mài mòn
• Các thử nghiệm này mô phỏng các tác động cơ học do va chạm, mài mòn có thể dẫn tới hiện tượng đoản mạch bên trong.
T7: Thử nghiệm khả năng chịu quá tải
• Thử nghiệm này đánh giá khả năng của pin chịu được tình trạng sạc quá mức hay không.
T8: Thử nghiệm phóng điện cưỡng bức
• Thử nghiệm này đánh giá khả năng chịu đựng điều kiện phóng điện cưỡng bức của pin sơ cấp hoặc pin sạc.

Theo yêu cầu của Mục 38.3, cell và pin phải được kiểm tra cụ thể tùy theo loại của chúng, như sau:

• Tất cả các loại cells phải chịu các thử nghiệm từ T1 đến T6, cũng như thử nghiệm T8.
• Tất cả các loại pin không sạc lại được (kể cả các loại có cells đã được thử nghiệm trước đó) phải được thử nghiệm trong các thử nghiệm từ T1 đến T5.
• Tất cả các loại pin sạc lại được (kể cả các loại có cells đã được thử nghiệm trước đó) phải chịu các thử nghiệm từ T1 đến T5 cũng như thử nghiệm T7.
• Pin sạc một cell có bảo vệ quá tải cũng phải được thử nghiệm trong Thử nghiệm T7.
• Các cells thành phần được vận chuyển riêng biệt khỏi bộ pin phải được thử nghiệm như một cell.
• Các cells thành phần không được vận chuyển riêng biệt khỏi bộ pin chỉ phải chịu thử nghiệm T6 và T8.